產(chǎn)品時間:2022-12-16
NIST SRM半導體薄膜:AlxGa1-xAs外延層本標準參考材料(SRM)旨在用作分析方法的參考標準測量薄膜的組成,俄歇電子能譜(AES)和X射線光電子能譜(XPS)。SRM 2842的一個單元包括在砷化鎵(GaAs)襯底上生長的AlxGa1-xAs外延層,具有經(jīng)認證的Al摩爾分數(shù)x通過使用膠帶將其固定到不銹鋼盤上。
本公司專業(yè)代理NIST國際標準品,詢價訂購: 。
標準參考材料® 2842
半導體薄膜:AlxGa1-xAs 外延層
(Al 摩爾分數(shù) x 接近 0.30)
序列號:樣品
NIST SRM半導體薄膜:AlxGa1-xAs外延層1、甜度低:赤蘚糖醇的甜度只有蔗糖的60%-70%,入口具有清涼味,口味純正,沒有后苦感,可與高倍甜味劑復配使用能抑制其高倍甜味劑的不良風味。
地址:東莞市萬江區(qū)大塘電商中心B區(qū)448 傳真: 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 備案號:粵ICP備18148388號 GoogleSitemap
東莞市景源實驗科技有限公司 版權(quán)所有 © 2018.